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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
George W. Zobrist,George WZobrist,George W. Zobrist,George WZobrist
George W. Zobrist,George WZobrist,George W. Zobrist,George WZobrist
Detalles del libro
| Editorial | Bloomsbury USA 3PL |
|---|---|
| Edición | (01/01/1993) |
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9780893917814 |
| ISBN-10 | 0893917818 |
Detalles del libro
| Autor/es | George W. Zobrist,George WZobrist,George W. Zobrist,George WZobrist |
|---|---|
| Editorial | Bloomsbury USA 3PL |
| Edición | (01/01/1993) |
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9780893917814 |
| ISBN-10 | 0893917818 |
VLSI systems are becoming very complex and difficult to test. Traditional stuck-at fault problems...
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Otra información de interés
- Portada: VLSI Fault Modeling and Testing Techniques de Bloomsbury USA 3PL
- Editorial: Bloomsbury USA 3PL | 01/01/1993
- Sinopsis:
El autor de VLSI Fault Modeling and Testing Techniques, con isbn 978-0-89391-781-4, es George W. Zobrist,george Wzobrist,george W. Zobrist,george Wzobrist, esta publicación tiene doscientas ocho páginas.
