El autor de Optimal Reliability Design, con isbn 978-0-521-78127-5, es Un Ko.
Optimal Reliability Design está editado por Ediciones Akal. En 1973 la editorial comenzó su andadura y tiene su sede en Madrid. Ediciones Akal tiene más de tres mil seiscientas obras publicadas. AKAL es el sello editorial al que pertenece esta editorial junto a Suma, Richmond, Santillana Educación, Español Santillana-USAL, Aguilar... Ediciones Akal está especializada en Ciencias Naturales Y Ténicas, Texto Escolar, Actualidad, Salud, Ciencias Humanas Y Sociales... La editorial tiene las siguientes colecciones de títulos: Nuestro Tiempo, Pueblos Y Civilizaciones, Iniciación A La Historia, Clásica, Vía Láctea... Las obras que conforman el catálogo de Ediciones Akal vienen de la mano de autores tan conocidos como Eloísa Ramírez Vaquero, Catalina Balmaceda, Nina Barough, Bier Barry, Óscar Barrero Pérez...
El autor de Optimal Reliability Design, con isbn 978-0-521-78127-5, es Un Ko.
Optimal Reliability Design está editado por Ediciones Akal. En 1973 la editorial comenzó su andadura y tiene su sede en Madrid. Ediciones Akal tiene más de tres mil seiscientas obras publicadas. AKAL es el sello editorial al que pertenece esta editorial junto a Suma, Richmond, Santillana Educación, Español Santillana-USAL, Aguilar... Ediciones Akal está especializada en Ciencias Naturales Y Ténicas, Texto Escolar, Actualidad, Salud, Ciencias Humanas Y Sociales... La editorial tiene las siguientes colecciones de títulos: Nuestro Tiempo, Pueblos Y Civilizaciones, Iniciación A La Historia, Clásica, Vía Láctea... Las obras que conforman el catálogo de Ediciones Akal vienen de la mano de autores tan conocidos como Eloísa Ramírez Vaquero, Catalina Balmaceda, Nina Barough, Bier Barry, Óscar Barrero Pérez...
Otros libros de Ko, Un son Flores De Un Momento, Unas Horas Con Los Poetas Muertos, Diez Mil Vidas, Porque Quiero, Cellular Physiology And Neurophysiology: Mosby Physiology Series, The Other Half Of Macroeconomics And The Fate Of Globalization, Thin Film Transistors y Reliability, Yield, And Stress Burn-in. Ver su bibliografía.